・レーザ走査式非接触検査・30×30mmの大面積測定・振動に強い 防振台不要 0.52msec/30mmの高速走査
・工場内インライン使用可能
・高感度 0.1nm
・表面粗さ・キズ・微細異物検出可能
【対応可能ワーク】
半導体ウエハー,
ハードディスク,
LCDフラットパネルなど
検査機本体 W550×D600×H600
1-1 ハードディスク
1-2 ハードディスク解析
1-3 Siウェハー
1-4 Siウェハー解析
1-5 Siウェハー
1-6 ICパターン
2-1 良品
2-2 不良品