What"s new

　
  • 09.07.29-31  マイクロマシン・MEMS展（於）東京ビックサイトに出展しました
  • 09.06.24-26  機械要素技術展（於）東京ビックサイトに出展しました
  • 09.04.01    レーザー走査式表面検査機：”CSYS06"新シリーズ発表
  • 09.03.24     長岡技術大学液晶デバイス研究室との共同研究契約(5年)終了により 技術開発部・製造部・管理部を、NBICより本社機能を移転しました
  • 08.11.27     特許製品を大手検査機メーカーに対しOEM契約により、1号機納入
  • 08.11.05    発明表彰（関東地域）で中小企業庁長官奨励賞並びに実施功績賞受賞
  • 07.12.05-07  SEMICON Japan 2007 (於) 幕張メッセに出展いたしました
  • 07.11.28-30  「パテントソリューションフェア　2007」東京ビックサイトに出展いたしました
  • 07.08.20      [共同研究契約]2年間：国立大学法人　長岡技術科学大学　液晶デバイス研究室
  • 06.12.06      「特許ビジネス市」(於) 大阪国際交通センターに出展しました
  • 06.10.10-13  Global Tronics 2006（シンガポール） に出展しました
  • 06.07.11      (財)地域総合整備財団より
    「平成18年度新分野進出等企業支援補助事業」に採択されました
  • 06.06.20     「形状測定装置」が特許第3810749号に登録されました
  • 06.04.27     特許出願中の「形状測定装置」が特許査定を受けました
  • 05.12.7-9   SEMICON Japan 2005(於)幕張メッセに出展しました.
  • 05.10.16      BSフジTV放映「知恵の輪ニッポン ｜特許技術内容
  • 05.10.12-14　中小企業総合展(於)東京ビックサイトに 表面検査機"CSM 03"を出展した．
  • 05.10.07      本社機能を移転しました．
  • 05.9.20-21    DISKCON USA 2005に，DISK表面検査機"CSM 02"を出展しました．
  • 05.01.24 [共同研究契約]3年間:
    国立大学法人 長岡技術科学大学 液晶デバイス研究室
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